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- 技术资料
联讯仪器800G光模块测试仪是集光口误码分析仪(BERT)，三温控制单元为一体的误码综合测试系统。集成多路误码仪，多路待
测光模块MCB，多路独立控温单元。无需外部射频电缆互联，通过不同热循环设置，实现不同环境温度条件下的高速光模块误码
测试;
通过可更换式设计的MCB测试卡，无需额外的高速射频线缆，实现灵活快捷的DUT插拔式测试；通过更换MCB测试卡以及配套
测试夹具，可实现不同封装种类的光模块测试，主要包括800G QSFP-DD, OSFP等光模块，并兼容400G光模块;
测试项包括光模块误码测试，FEC测试,发射机校准，DMI信息监测，电压电流测量，电压调制(拉偏测试)等;
MCB测试卡专配的温循压接盒套件，支持TEC温循(空载：-10~+85℃，带载模块DMI温度-5~＋85 ℃)；通过配置高冷量功率的水冷
机实现高效率的温度循环测试；
产品优异的信号质量(上升/下降时间快、抖动低)、丰富的功能(支持FEC纠错分析)、灵活的选件配置和超高的整机集成度，为高速
串行电路产品预研、设计和生产测试提供了强大的性能和灵活性保障。
应用灵活：速率范围宽，性能优异
速率支持范围：24.33-58GBaud
各通道可独立配置为NRZ或PAM4信号制式
支持切换输入输出极性
信号质量优异：快速上升下降沿、低固有抖动
支持高摆幅输出，以及3/7阶预加重，inner eye等多样化发射机调制器
支持丰富测试码型: PRBS7~31Q；SSPRQ/JP03A/JP03B/LIN/方波/自定义码型等
触发信号支持分频输出；支持软件程控切换时钟输出
支持多台ATE并行程控，灵活执行各通道DUT的BER/FEC测试及TEC温循
综合成本低，效率高，一站式解决
配件/选件丰富;耗材维护成本低；MCB耗材可独立更换
测试工位配置更加灵活，配件更换便捷，综合测试成本显著降低
集成TEC温循件，实现低成本化的快速高效的三温测试
