400-665-6604
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- 技术资料
联讯仪器400G光模块测试仪是集光口误码分析仪（BERT)，三温控制单元为一体的误码综合测试系统。无需电缆连接并通过环
境温度设置，实现不同温度环境下高速光模块的误码测试，如400G QSFP-DD，OSFP PAM4光模块，以及更多100G以下光模块，
如SFP28，QSFP28等；集成式MCB测试卡，无需额外的高速射频线缆，实现灵活快捷的DUT插拔式测试；通过更换MCB测试卡
以及配套测试夹具，可实现不同封装种类的光模块测试，主要包括400G/200G QSFP-DD，100G QSFP28，SFP+28G等。
提供MCB测试卡专配的温循结构套件，支持TEC温循(空载：-10~+85℃，带载模块DMI温度-5~＋85 ℃)，通过配置高冷量功率的水
冷机实现高效率的温度循环测试。支持光模块DMI信息监测，电压电流测量，电压调制(拉偏测试)；优异的信号质量(上升/下降时
间快、抖动低)、丰富的功能(支持FEC纠错码仿真测试分析)特点、灵活的选件配置和超高的整机集成度，为高速串行电路产品预
研、设计和生产测试提供了强大的性能和灵活性保障。同时可编程码型发生器(PPG)能够提供7Tap预加重，补偿信号在传输过程
中的损耗，改善信号质量。误码检测器(ED)内置了均衡电路，同时内置快速锁定的时钟恢复模块，保证了误码测试时链路的稳定
性，以及在恶劣复杂的测试环境中误码测试的准确性。
联讯仪器 400G 光模块测试仪，集成多路误码仪，多路待测光模块MCB，多路独立控温单元。
各通道可独立配置为NRZ或PAM4信号制式
速率支持范围：20~30GBaud
支持FEC仿真测试分析
支持PRBS 7/9/11/13/15/16/23/31，PRBS7~31Q
支持丰富测试码型，SSPRQ/JP03A/JP03B/LIN/方波/自定义码型等
触发信号支持分频输出(4分频～128分频)
支持软件程控切换TrigA/TrigB时钟输出
快速上升下降沿、低固有抖动
支持高功率模式的发射端输出
支持3阶/7阶模式下，发射端的预加重及去加重调制
支持接收端CTLE均衡调制
支持切换输入输出极性
强大灵活的数据库管理功能，协助研发深度分析数据
可通过以太网口或USB控制接口调用外部API(LabVIEW，C#)灵活程控本产品
