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PB6600是一款广泛应用于半导体行业的高端KGD测试分选系统,专注于裸Die级SiC功率芯片动静态参数测试。采用模块
化设计,支持Frame Ring、Tape&Reel以及Tray 等多种芯片来料方式。支持Hard Docking连接方式及多站常高温测试,具
备高压防打火功能。专业的测试针卡设计,通流能力大,针痕可控,测试稳定性高。具备下料分Bin功能,支持分Bin方式定
制化选择。
联讯仪器PB6600 KGD测试分选系统以专业化的设计、人性化的操作界面和强大的专业测试能力为功率半导体行业的生产、研
发、制造提供了一个模块化、高效率、高精度的裸DIE级测试解决方案。
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