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- 技术资料
BI6203系列老化测试系统是专为半导体激光器芯片老化测试而设计的高密度、多功能老化测试系统。
该系统采用主框架和大单层结构，集成多通道驱动电源、温度控制器和实时数据采集功能，标准化的抽屉和定制化的老化
夹具适用于不同尺寸的 CoC（Chip on Carrier），更换产品后只需更换夹具即可与系统兼容，如果产品需要增加新的功能，比
如热敏电阻监控、功率监控就需要更换新的抽屉。
BI6203的驱动电路设计具有卓越的二极管保护功能，任何情况下不会有电流或电压过冲(EOS)，软件可配置电流和电压的门
限，超过限制时系统可关闭异常通道保护被测芯片。系统设计还考虑了通道间绝缘性能和静电保护，全面确保CoC老化测试
过程的稳定性和安全性。
夹具：
鱼骨型夹具设计，支持CoC在夹具上打金线
温度控制：
•
每个夹具具备独立的加热、控温、监控、超温保护和散热单元，实现节能的控温设计
•
根据被测芯片的老化条件，采用加热片+风扇的方案进行产品温控
•
紧密的温度控制结构具有卓越的导热特性，热沉温度均匀性偏差不超过±1℃（40～100℃）
驱动电源：
•
系统支持最多4224路4象限驱动电源
•
自动电流控制模式（ACC）确保控制电路向每颗半导体激光器提供稳定电流，即使被测芯片接触电阻发生变化，老化期间
的供应电流也保持恒定
安全可靠性：
驱动板通过可靠的硬件设计和软件协同的综合保护机制，有效消除可能对被测芯片造成损害的潜在问题，包括EOS等
在线功率监测：
支持在线功率监控选项配置，可进行完整的LIV或EA扫描，具备Ith分析能力，测试重复性<±1%，使系统成为研发阶段可靠性测
试的更佳选择
容量大：
单系统最多支持4224个CoC同时老化，产能可根据客户需求进行弹性配置
软件功能：
软件提供简洁明了的用户界面，使用户清晰了解每个器件的状态。所有测试结果、状态和异常记录均自动保存至数据库，支持高
效的数据存储和结果追溯查询。此外，老化数据也可上传至数据库。软件还集成了快速检查功能，方便用户迅速获取每台设备
的详细信息
