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WAT6300是一台串行高压半导体参数测试系统,可选配实现垂直型及通用型高压晶圆级参数测试,可以快速执行精确的高
低压直流测量、电容测量等。
垂直型测试系统内置一台低压低漏电矩阵和一台单路输出至CHUCK的垂直型高压矩阵,系统在高压3500V使用条件下最多
可扩展24通道输出,在600V使用条件下最多可扩展48通道输出,可满足中高压多通道的测试需求。通用型测试系统内置一
台通用高压开关矩阵,最大可扩展24通道及CHUCK输出,所有通道输出电压均可高达3500V,可用于平面型与垂直型的器
件测试。垂直型与通用型系统均配置高低压保护电路,提高系统运行稳定性。